產(chǎn)品詳情
半導(dǎo)體材料形貌分析技術(shù)：DB FIB、TEM、SEM
DB FIB雙束聚焦離子束：
特點：
雙束聚焦離子束是一種多用途的分析技術(shù)，可以用于樣品定位切割并將隱藏在各種基底材 料中的缺陷揭露出來。*常見的用途之一就是制備TEM樣品及截面分析。
服務(wù)項目：
- 橫截面缺陷分析
- 橫截面數(shù)據(jù)量測
- 納米級超薄樣品制備、TEM制樣
-
（不做線路修補(bǔ)）
掃描電子顯微鏡(SEM)
掃描電子顯微鏡(SEM) 是一種介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察手段。其利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品, 通過光束與物質(zhì)間的相互作用, 來激發(fā)各種物理信息, 對這些信息收集、放大、再成像以達(dá)到對物質(zhì)微觀形貌表征的目的。
服務(wù)項目：
- 形貌觀察、截面觀察、膜厚測量。
透射電子顯微鏡TEM
特點：
透射電子顯微鏡的分辨率比光學(xué)顯微鏡高的很多，可以達(dá)到0.1～0.2nm，放大倍數(shù)為幾萬～百萬倍。因此，使用透射電子顯微鏡可以用于觀察樣品的精細(xì)結(jié)構(gòu)，甚至可以用于觀察僅僅一列原子的結(jié)構(gòu)，比光學(xué)顯微鏡所能夠觀察到的*小的結(jié)構(gòu)小數(shù)萬倍。
服務(wù)項目：
- 形貌、膜厚測量、STEM、HAADF。
公司簡介：
廣州廣電計量檢測股份有限公司始建于1964年，是 原信息產(chǎn)業(yè)部電子602計量站，經(jīng)過50余年的發(fā)展，現(xiàn)已成為一家全國化、綜合性的國有第三方計量檢測機(jī)構(gòu)，專注于為客戶提供計量、檢測、認(rèn)證以及技術(shù)咨詢與培訓(xùn)等專業(yè)技術(shù)服務(wù)，在計量校準(zhǔn)、可靠性與環(huán)境試驗、電磁兼容檢測、元器件篩選與失效分析等多個領(lǐng)域的技術(shù)能力及業(yè)務(wù)規(guī)模處于國內(nèi)*水平。
廣電計量在全國建有23個綜合性檢測基地，54個分子公司，形成了覆蓋全國的技術(shù)服務(wù)保障能力，為各行業(yè)和各領(lǐng)域客戶提供便捷計量檢測技術(shù)服務(wù)。
試驗室地點：廣電計量檢測-浦東試驗室（康橋東路958號）
