產(chǎn)品詳情
AEC-Q100認證
AEC-Q100對IC的可靠性測試可細分為加速環(huán)境應力可靠性、加速壽命模擬可靠性、封裝可靠性、晶圓制程可靠性、電學參數(shù)驗證、缺陷篩查、包裝完整性試驗，且需要根據(jù)器件所能承受的溫度等級選擇測試條件。
需要注意的是，第三方難以獨立完成AEC-Q100的驗證，需要晶圓供應商、封測廠配合完成，這更加考驗對認證試驗的整體把控能力。廣電計量將根據(jù)客戶的要求，依據(jù)標準對客戶的IC進行評估，出具合理的認證方案，從而助力IC的可靠性認證。
如果成功完成根據(jù)本文件各要點需要的測試結果，那么將允許供應商聲稱他們的零件通過了AEC Q100 認證。供應商可以與客戶協(xié)商，可以在樣品尺寸和條件的認證上比文件要求的要放寬些，但是只有完成要求實現(xiàn)的時候才能認為零件通過了AEC Q100 認證。
AECQ100認證測試周期：
- 3-4個月，提供全面的認證計劃、測試、報告等服務。
AECQ100認證測試地點：
- 廣電計量廣州總部試驗室、廣電計量上海試驗室。
AECQ100認證測試項目：
廣州廣電計量檢測股份有限公司（GRGT）失效分析實驗室AEC-Q技術團隊，執(zhí)行過大量的AEC-Q測試案例，積累了豐富的認證試驗經(jīng)驗，可為您提供更專業(yè)、更可靠的AEC-Q認證試驗服務。
