產(chǎn)品詳情
一、JIMA RT RC-05B 分辨率測試卡詳細(xì)介紹：
JIMA RT RC-05B是一款采用新半導(dǎo)體光刻技術(shù)制作的微型分辨率測試卡。它用于校準(zhǔn)和監(jiān)控系統(tǒng)分辨率，確保微焦點(diǎn)或納米焦點(diǎn)X射線檢測系統(tǒng)獲得高質(zhì)量的結(jié)果。
JIMA RT RC-05B支持3微米至50微米（3 μ m至50 μ m）的分辨率。這對應(yīng)于6微米和100微米（6 μ m和100 μ m）之間的焦斑尺寸。
JIMA RT RC-05 X射線分辨率測試卡
測試卡封裝在一個(gè)防護(hù)盒中
盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×3mm
芯片尺寸（W×D×T）：8×8×0.2mm
圖案布局：T型 （3-10μm）
I 型 （15-50μm）
線/空間尺寸：16種規(guī)格圖案,
3μm,4μm,5μm,6μm,7μm,9μm,10μm （T型）
15μm,20μm,25μm,30μm,35μm,40μm,45μm,50μm (I 型)
